E+H雷達物位計

雷達物位(wei)計采用微波脈沖的(de)測量(liang)方(fang)法，并可在工(gong)業頻率波段范圍內正常(chang)，波束能(neng)量(liang)低，可安裝(zhuang)于(yu)各(ge)種金(jin)屬、非(fei)金(jin)屬容器或管道內，對(dui)液體、漿料及顆粒料的(de)物位(wei)進行(xing)非(fei)接觸式連(lian)續(xu)測量(liang)。適(shi)用于(yu)粉(fen)塵、溫度、壓力(li)變化大，有(you)惰性(xing)氣體及蒸汽存在的(de)場合(he)。雷達物位(wei)計對(dui)人體及環(huan)境均無(wu)傷(shang)害，還具有(you)受(shou)介質比(bi)重(zhong)的(de)影響，受(shou)介電常變化的影響，需(xu)要現場校調等優點，論是對(dui)工業需(xu)要，還是對(dui)顧客經濟實惠的考慮(lv)，都是錯(cuo)的選擇。

E+H雷達物位計

工作原理(li)

微波(bo)物(wu)位計工作方(fang)式類似雷(lei)達:向被測目(mu)(mu)標發(fa)射微波(bo)，由目(mu)(mu)標反射的(de)回(hui)波(bo)返回(hui)發(fa)射器(qi)(qi)被接(jie)收(shou)，與發(fa)射波(bo)進(jin)行(xing)比較(jiao)，確(que)定目(mu)(mu)標存在并(bing)計算(suan)出發(fa)射器(qi)(qi)到目(mu)(mu)標的(de)距離。

應用(yong)領域

現今物(wu)(wu)位(wei)(wei)測(ce)量領域(yu)困(kun)擾用戶的(de)是(shi)(shi)些大(da)型固(gu)體(ti)料(liao)倉(cang)的(de)物(wu)(wu)位(wei)(wei)測(ce)量，特別(bie)是(shi)(shi)用于50/100米以內的(de)充滿粉塵和(he)擾動的(de)加料(liao)狀態下的(de)料(liao)倉(cang)。相關技術的(de)儀表例(li)如(ru)電容(rong)或導波雷達TDR在放料(liao)時(shi)物(wu)(wu)位(wei)(wei)下降時(shi)會受到很強的(de)張力負(fu)載(zai)，可能(neng)會損壞儀表或把倉(cang)頂拉塌掉(diao)。重錘(chui)經常有(you)埋錘(chui)的(de)問題(ti)，需(xu)要經常維(wei)修，大(da)多其他機械(xie)式(shi)儀表也是(shi)(shi)這樣(yang)。而高粉塵工況又可能(neng)會超(chao)出非接觸(chu)式(shi)超(chao)聲波物(wu)(wu)位(wei)(wei)測(ce)量系統(tong)的(de)能(neng)力。高頻的(de)調(diao)頻雷達技術尤其適(shi)合這種(zhong)大(da)型固(gu)體(ti)料(liao)倉(cang)的(de)物(wu)(wu)位(wei)(wei)測(ce)量。

現今的(de)(de)(de)高(gao)頻(pin)(pin)(pin)雷(lei)(lei)(lei)達(da)(da)般為工(gong)作(zuo)在(zai)K波(bo)段(duan)(24~26GHz)的(de)(de)(de)雷(lei)(lei)(lei)達(da)(da)物位計，雷(lei)(lei)(lei)達(da)(da)的(de)(de)(de)工(gong)作(zuo)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)越高(gao)其電磁波(bo)波(bo)長越短，越容(rong)易在(zai)傾斜的(de)(de)(de)固(gu)體(ti)表面(mian)有(you)更好的(de)(de)(de)反(fan)射，并(bing)具(ju)有(you)較窄的(de)(de)(de)波(bo)束寬度，可(ke)(ke)有(you)效(xiao)避(bi)開(kai)障礙物，高(gao)的(de)(de)(de)頻(pin)(pin)(pin)率(lv)還(huan)可(ke)(ke)使雷(lei)(lei)(lei)達(da)(da)使用更小的(de)(de)(de)天線。而FMCW調(diao)頻(pin)(pin)(pin)連續(xu)波(bo)微波(bo)物位計發射和接受信(xin)號是同時(shi)的(de)(de)(de)，相同時(shi)間內發射的(de)(de)(de)微波(bo)信(xin)號更多(duo)，固(gu)體(ti)測(ce)量(liang)中(zhong)(zhong)可(ke)(ke)減少高(gao)粉塵固(gu)體(ti)料倉測(ce)量(liang)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)失波(bo)現象(xiang)。因此固(gu)體(ti)測(ce)量(liang)中(zhong)(zhong)高(gao)頻(pin)(pin)(pin)的(de)(de)(de)調(diao)頻(pin)(pin)(pin)雷(lei)(lei)(lei)達(da)(da)能(neng)提供準(zhun)確(que)、可(ke)(ke)靠的(de)(de)(de)測(ce)量(liang)，并(bing)在(zai)例如化工(gong)行業中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)PP粉末(mo)、PE粉末(mo)等(deng)介質中(zhong)(zhong)也有(you)良好應用。但由(you)于技術(shu)限(xian)制(zhi)，現今還(huan)沒有(you)工(gong)作(zuo)在(zai)K波(bo)段(duan)以上(shang)的(de)(de)(de)高(gao)頻(pin)(pin)(pin)雷(lei)(lei)(lei)達(da)(da)物位計。

也(ye)有(you)使(shi)用(yong)5.8GHz ~ 10GHz的(de)低頻雷達測量固體，但(dan)由于其較低的(de)頻率、較長(chang)的(de)波長(chang)其發(fa)射波容易(yi)被漫反射，在高(gao)粉塵(chen)工況下會導致很多的(de)二次或(huo)多次回波，干(gan)擾和噪聲很大，因(yin)此固體粉料測量中逐(zhu)漸(jian)被淘汰。